申請（專利）號：CN200710012937.0申請日：2007.09.24
公開（公告）號：CN101398372公開（公告）日：2009.04.01
主分類號：G01N21/17(2006.01)I範疇分類：
分類號：G01N21/17(2006.01)I；G01N21/01(2006.01)I
優先權：
申請（專利權）人：中國科學院大連化學物理研究所；北京彩陸科學儀器有限公司
地址：116023遼寧省大連市中山路457號
國省代碼：遼寧；21
發明（設計）人：林炳承；馬波；倪春起；王昕；秦建華
國際申請：
國際公布：
進入國家日期：
專利代理機構：沈陽晨創科技專利代理有限責任公司
代理人：張晨
分案申請號：
頒證日：





摘要：
本發明提供了一種實現快速自動光學對準和陣列多通道檢測的全集成紫外微流控芯片分析儀，該紫外微流控芯片分析儀由硬件和控製軟件模塊構成。本發明提出了一種全新的自動光學對準方法，直接利用光學原理，使用軟件自動控製芯片檢測通道與光路的快速自動對準；本發明首次實現了紫外微流控芯片的陣列多通道檢測；用戶操作簡單，同時提供了強大的功能可擴展性。
主權項：
一種全集成紫外微流控芯片分析儀，其特征在於：所述紫外微流控芯片分析儀由硬件和控製軟件模塊構成；所述硬件包含插卡式芯片電極板(1)、紫外檢測光路係統(2)、CD托盤式芯片移動調節平台(3)、信號采集板(4)、高壓電源及控製板(5)；其中所述插卡式芯片電極板(1)與芯片封裝一體，插CD托盤式芯片移動調節平台(3)的插槽，與高壓電源及控製板(5)相連；所述CD托盤式芯片移動調節平台(3)固定於步進電機上，並在垂直於紫外檢測光路係統(2)的平麵上移動。
紫外檢測光路係統(2)包含有氘燈光源、平麵光柵、透鏡組、檢測器；氘燈光源發出的光經過光路，被聚焦成單色光窄帶垂直入射芯片檢測通道，透射光被檢測器檢測，其吸光度信號通過信號采集板(4)采集並傳輸至計算機；所述控製軟件模塊，其特征在於包括：光學對準和多通道檢測模塊，控製CD托盤式芯片移動調節平台(3)移動，監測光強度信號，實現光學對準；設定陣列檢測通道之間的間距和通道數目，實現陣列多通道的快速掃描檢測；高壓控製輸出模塊，控製高壓電源及控製板(5)的高壓輸出、懸空、接地；信號采集與處理模塊，記錄信號采集板(4)的信號，完成計算、積分、儲存信息。http://www.wkt798.com